logo
İyi fiyat  Çevrimiçi

Ürün ayrıntıları

Created with Pixso. Ev Created with Pixso. Ürünler Created with Pixso.
SiC Substrat
Created with Pixso. Sic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

Sic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

Marka Adı: ZMSH
Model Numarası: SiC Gofret HPSI
Adedi: 25
Fiyat: Fluctuates with market
Teslim Zamanı: 2-4 hafta
Ödeme Şartları: T/T
Ayrıntılı Bilgiler
Menşe yeri:
Şangay, Çin
Politip:
Ana akım 4H-SiC
Çap:
4/6/8 inç mevcut
Kalınlık:
Standart boyutlar 350μm, 500μm ve 650μm’dir
Direnç:
≥1×10¹⁰ Ω・cm (HPSI temel elektrik özellikleri)
Yüzey İşlem:
Tek taraflı/çift taraflı CMP ayna parlatma
Mikro Boru Yoğunluğu:
Seri üretim sınıfı ≤1 adet/cm²
Ürün Açıklaması

HPSI SiC Yüzeyleri Hakkında Bilgi

    HPSI (Yüksek Saflıkta Yarı İletken) silisyum karbür yüzeyleri, yüksek frekanslı GaN RF cihazları ve gelişmiş üçüncü nesil yarı iletkenler için kritik temel alt tabakalardır. 5G iletişimi, milimetre dalga radarı ve havacılık elektroniği pazarlarının hızla genişlemesiyle birlikte, küresel SiC alt tabaka pazarının 2030 yılına kadar 2 milyar ABD dolarını aşması bekleniyor ve bu da gelecek nesil kablosuz iletişim ve yüksek güçlü elektronik sistemlerde yeri doldurulamaz bir stratejik rol oynuyor.Sic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

 

    Yukarı Akış: Yüksek saflıkta silisyum karbür tozu (6N sınıfı üzeri), fiziksel buhar taşıma (PVT) kristal büyüme fırınları ve yüksek saflıkta grafit termal alan bileşenleri. Üst düzey kristal büyüme ekipmanları ve ultra yüksek saflıkta ham maddeler, endüstriyel zincirde hala kısmi ithalat bağımlılığı ile karşı karşıyadır. Orta Akış: SiC tek kristal büyümesi → külçe şekillendirme → çok telli dilimleme → honlama → kimyasal mekanik parlatma (CMP) → epitaksiye hazır yüzey işleme. Bu segment, kristal verimi ve kusur kontrolünün temel rekabet göstergeleri olduğu son derece yüksek teknik engellere sahiptir. Aşağı Akış: GaN RF güç cihazları (HPSI SiC tüketiminin en büyük payını oluşturur), 5G baz istasyonu güç amplifikatörleri, milimetre dalga radar çipler, havacılık elektronik bileşenleri, yüksek frekanslı mikrodalga cihazları ve yüksek voltajlı güç cihazı prototipleri. İletişim teknolojisi yükseltmeleri ve yeni enerji ve savunma endüstrileri tarafından yönlendirilen aşağı akış talebi sürekli artmaktadır.

 

    4H HPSI SiC yüzeyleri, Yüksek Saflıkta Yarı İletken tek kristal silisyum karbür alt tabakalarıdır, <0001> kristal yönelimi ile, esas olarak Fiziksel Buhar Taşıma (PVT) kristal büyüme yöntemiyle üretilir. Yarı iletken özelliği, ultra yüksek saflık kontrolü ve vanadyum katkılama teknolojisi ile elde edilir, son derece yüksek dirence ulaşılır. Epitaksiye hazır yüzey, atomik düzeyde pürüzsüzlük elde etmek için hassas CMP parlatma işleminden geçer ve katı MOCVD GaN epitaksi gereksinimlerini karşılar.

Ana Özellikler

Yüksek Saflıkta Yarı İletken SiC Malzemesi

    HPSI SiC yüzeylerimiz, yüksek frekanslı RF ve üst düzey yarı iletken üretim ortamları için özel olarak geliştirilmiş 6N sınıfı yüksek saflıkta tek kristal silisyum karbürden (4H-SiC) üretilmiştir. Malzeme, üstün termal iletkenlik, ultra yüksek elektriksel direnç, mükemmel kimyasal korozyon direnci ve üstün mekanik mukavemet özelliklerine sahiptir, yüksek sıcaklık epitaksisi, yüksek güçlü çalışma ve zorlu plazma işleme koşulları altında kararlı elektriksel ve fiziksel performansı korur.

Çeşitli Cihazlar İçin Çoklu Politipler ve Yönelim Seçenekleri

    SiC alt tabakaları, farklı yarı iletken cihaz gereksinimlerine uyacak şekilde ana akım politipler ve kristal yönelimlerde mevcuttur. 4H-SiC, dengeli elektron hareketliliği ve malzeme kararlılığına sahip RF ve güç cihazları için baskın seçimdir; 6H-SiC seçenekleri özel optoelektronik ve yüksek sıcaklık cihaz senaryolarına hitap eder. Özel eğimli (örneğin, 4° eğimli) özellikler, epitaksiyel katman kalitesini ve cihaz verimini optimize etmek için mevcuttur.

Ultra Hassas CMP Parlatma ve Düzlük Performansı

    Farklı işlem senaryolarına uyacak şekilde SSP (Tek Taraflı Cilalı) ve DSP (Çift Taraflı Cilalı) derecelerinde mevcuttur. Epitaksiye hazır CMP cilalı yüzeyler, ultra düşük yüzey pürüzlülüğü Ra < 0.1 nm elde eder, sıkı TTV, BOW ve WARP değerleri ile kontrol edilir. Atomik düzeyde pürüzsüz, kusursuz yüzey, MOCVD GaN epitaksi büyüme standartlarını mükemmel bir şekilde karşılar, tekdüze epitaksiyel katman birikimini ve cihaz RF performansının yüksek tutarlılığını sağlar.Sic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

Mükemmel Elektriksel ve Termal Özellikler

    HPSI SiC alt tabakaları, yüksek frekanslı ve yüksek güçlü RF cihazları için sinyal çapraz konuşmasını ve sızıntıyı etkili bir şekilde ortadan kaldıran ultra yüksek direnç (≥ 1×10¹⁰ Ω·cm) ve ultra düşük dielektrik kaybı sağlar. Safirden 3-4 kat daha yüksek termal iletkenlik ile mükemmel ısı dağılımı yeteneği sunar, yüksek yük altında cihaz güç yoğunluğunu ve uzun vadeli güvenilirliği önemli ölçüde iyileştirir.

Özelleştirilmiş Hassas Alt Tabaka Üretimi

    Alt tabaka özellikleri, müşteri teknik gereksinimlerine göre tamamen özelleştirilebilir, şunları içerir:

  • Yüzey çapı: 2 / 4 / 6 / 8 inç
  • Standart ve özelleştirilmiş kalınlık
  • Kristal politipi ve hassas eğim
  • SSP / DSP parlatma modları
  • Yüzey pürüzlülüğü ve düzlük toleransı
  • Kenar pahı ve kenar bitirme
  • Ana düz / çentik konumlandırma tasarımı
  • Temizlik sınıfı ve hassas temizleme işlemi

Fonksiyonel İşleme ve Özel Katma Değerli Hizmetler

    Standart çıplak SiC yüzeylerine ek olarak, çeşitlendirilmiş müşteri uygulamalarını desteklemek için tam işlem özelleştirilmiş fonksiyonel işleme sağlıyoruz. Mevcut hizmetler şunları içerir:

  • Epitaksiyel katman büyümesi (SiC üzerinde GaN / AlGaN)
  • Tam / yerel metalizasyon (Ti / Ni / Au / Cr kaplama)
  • Ultra ince yüzey inceltme ve gerilim giderme işlemi
  • Yüksek hassasiyetli kesme, delme ve özel şekillendirme
  • Özel yüzey bitirme (parlatma / honlama / aşındırma)
  • Sıkı kalite denetimi ve eksiksiz COA sertifikası

Özel Değiştirme ve OEM Sınıfı Alt Tabaka Çözümleri

    Müşteri çizimlerine, numune kıyaslamalarına, ekipman işlem parametrelerine, mevcut bileşen özelliklerine ve tersine mühendislik taleplerine dayalı olarak özelleştirilmiş SiC yüzey geliştirme ve üretimini destekliyoruz. Tüm ürünler RoHS ve REACH standartlarına uygundur, yarı iletken işlem yükseltme, ekipman eşleştirme ve yerel değiştirme projeleri için kararlı, yüksek verimli alt tabaka çözümleri sunar.

Tipik Uygulamalar

    HPSI SiC yüzeyleri, RF iletişimi ve gelişmiş yarı iletken endüstrilerinde yaygın olarak benimsenen temel alt tabakalardır ve aşağıdaki cihazlar ve üretim süreçleri için geçerlidir:

  • GaN tabanlı RF güç amplifikatörleri ve HEMT cihaz üretimi
  • 5G / 6G baz istasyonu RF ön uç çipler
  • Milimetre dalga radarı ve otomotiv radar çipler
  • Uydu iletişimi ve havacılık elektronik bileşenleri
  • Mikrodalga ve milimetre dalga monolitik entegre devreler (MMIC)
  • Yüksek frekanslı güç elektronik cihaz Ar-Ge ve prototipleme
  • Savunma elektroniği ve faz dizili radar sistemleri
  • Yüksek sıcaklığa dayanıklı yarı iletken cihaz paketleme
  • Yarı iletken vakum ekipmanları ve yüksek sıcaklık yalıtım parçaları
  • Yüksek güçlü RF cihaz paketleme ve termal yönetim alt tabakaları

    HPSI SiC alt tabakaları, ana akım RF ve üst düzey yarı iletken senaryoları için ticari olarak seri üretilmiştir, kararlı parti tutarlılığı, düşük kusur oranı ve mükemmel işlem uyumluluğu özelliklerine sahiptir.

Ürün Özellikleri

 

Öğe Özellik
Ürün HPSI Silisyum Karbür Yüzey / SiC Alt Tabaka
Malzeme Yüksek Saflıkta Yarı İletken 4H-SiC Tek Kristal
Büyüme Yöntemi Fiziksel Buhar Taşıma (PVT)
Kristal Yapı Altıgen Wurtzite Yapısı
Çap 2" / 4" / 6" / 8" veya Özelleştirilmiş
Kalınlık Özelleştirilmiş (örneğin, 350 µm – 650 µm)
Yönelim (0001) C-düzlemi, 4° eğimli / Özelleştirilmiş
Yüzey Bitirme SSP (Tek Taraflı Cilalı) / DSP (Çift Taraflı Cilalı) / Honlanmış
Yüzey Kalitesi MIL-PRF-13830B'ye göre Çizik-Dig (örneğin, 20/10, 10/5)
Direnç ≥ 1×10¹⁰ Ω·cm (Yarı İletken)
Mikro boru Yoğunluğu (MPD) ≤ 1 adet/cm² (Üretim Sınıfı) / Özelleştirilmiş
TTV (Toplam Kalınlık Değişimi) ≤ 3 µm (veya müşteri gereksinimine göre)
Yay / Çarpılma ≤ 10 µm (veya müşteri gereksinimine göre)
Pürüzlülük (Ra) Cilalı: ≤ 0.1 nm / Honlanmış: ≤ 0.5 µm
Kenar Tipi Ana Düz / Çentik ile (SEMI standardına göre)
Kenar Profili Gerektiği Gibi Pahlı / Yuvarlak
Katkı Maddesi Vanadyum katkılı / İçsel Yarı İletken
Saflık ≥ %99.9999 (6N Sınıfı)
Kaplama Kaplamasız / Epitaksiyel Katman / Metal Kaplama Mevcut
Uygulama RF İletişimi / GaN Epitaksisi / Mikrodalga / Havacılık

Yarı İletken ve RF Uygulamaları İçin Neden HPSI SiC Yüzeylerini Seçmelisiniz?

    HPSI silisyum karbür yüzeyleri, GaN RF epitaksisi, yüksek frekanslı cihaz üretimi ve mikrodalga elektronik sistemlerinde yaygın olarak uygulanan temel alt tabakalardır. GaN, AlGaN ve diğer epitaksiyel katman büyümesi için taşıyıcı olarak hizmet eder, yüksek sıcaklık, yüksek güç yoğunluğu, güçlü plazma erozyonu ve yüksek frekanslı elektromanyetik alanlar içeren aşırı üretim ortamlarında çalışırlar.

Geleneksel safir, silikon ve yaygın seramik alt tabaka malzemeleriyle karşılaştırıldığında, yüksek saflıkta yarı iletken SiC alt tabakaları üstün kapsamlı fiziksel ve elektriksel özellikleri entegre ederek, üst düzey RF ve yüksek güçlü yarı iletken süreçleri için yeri doldurulamaz hale getirir. Temel avantajlar şunlardır:Sic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

  • Ultra yüksek termal iletkenlik: 490 W/m·K'ya kadar termal iletkenlik ile, safirden 3-4 kat ve silikondan 10 kat daha yüksek, yüksek güçlü cihazlar tarafından üretilen ısıyı verimli bir şekilde dağıtır, cihaz güç yoğunluğunu ve hizmet ömrünü büyük ölçüde iyileştirir.
  • Aşırı yüksek sıcaklık kararlılığı: 2700°C'ye kadar erime noktasına sahip, uzun süreli yüksek sıcaklık epitaksisi ve yüksek güçlü çalışma altında kararlı kristal yapısını ve boyutsal doğruluğu korur, alt tabaka deformasyonunu ve cihaz performans düşüşünü etkili bir şekilde önler.
  • Ultra yüksek yarı iletken performansı: 1×10¹⁰ Ω·cm üzerindeki direnç ve ultra düşük dielektrik kaybı ile, yüksek frekanslı RF cihazları için güvenilir elektriksel yalıtım sağlar, sinyal çapraz konuşmasını ve ekleme kaybını etkili bir şekilde azaltır.
  • Üstün kimyasal atalet: Yarı iletken üretiminde kullanılan çeşitli asidik, alkali ve reaktif işlem gazlarına korozyona karşı dayanıklıdır, kimyasal reaksiyon veya yüzey bozulması olmaz, ultra temiz işlem koşulları sağlar.
  • Mükemmel plazma ve radyasyon direnci: İnce film biriktirme ve aşındırma işlemlerinde uzun süreli plazma bombardımanına ve yüksek enerjili radyasyona dayanır, düşük yüzey hasarı oranı ve kararlı performans ile.
  • Yüksek mekanik mukavemet ve sertlik: Mohs sertliği 9.5 ile elmastan sonra ikinci sırada yer alır, mükemmel aşınma direnci ve yapısal kararlılık sağlar, hassas işleme ve ince film büyümesi sırasında mekanik hasara ve çarpılmaya karşı dirençlidir.
  • Uzun vadeli işlem dayanıklılığı: Tekrarlayan ve zorlu yarı iletken üretim süreçlerinde tutarlı yüzey düzlüğünü ve kristal kalitesini korur, alt tabaka değiştirme sıklığını ve üretim maliyetlerini büyük ölçüde azaltır.

    Yukarıdaki nedenlerden dolayı, HPSI SiC alt tabakaları GaN RF cihazları, milimetre dalga iletişim çipler, havacılık elektroniği ve diğer temel yarı iletken bileşenler için tercih edilen ana akım malzeme haline gelmiştir.

Özel SiC Yüzey Üretimi

    RF iletişimi ve gelişmiş yarı iletken ekipmanları için özelleştirilmiş ve standartlaştırılmış HPSI SiC yüzey üretiminde uzmanlaştık, endüstriyel üretim ve laboratuvar Ar-Ge'si için yüksek hassasiyetli özel çözümlere odaklanıyoruz. Sabit standart özelliklerin sınırlamalarını aşıyoruz ve müşterilerin gerçek işlem parametrelerine, ekipman eşleştirme gereksinimlerine ve cihaz tasarım standartlarına tam olarak uygun yüzeyler özelleştiriyoruz.

    Kapsamlı özelleştirme seçenekleri, tam işlem yüzey parametrelerini ve destekleyici yapıları kapsar:

SiC Yüzey Temel Parametreleri

  • Yüzey çapı (2/4/6/8 inç ve özel özel boyutlar)
  • Yüzey kalınlığı
  • Kristal politipi (4H-SiC, 6H-SiC) ve eğim özelliği
  • Kenar şekli ve pahlama özellikleri
  • Düz / Çentik konumlandırma tasarımı
  • Yüzey pürüzlülüğü ve düzlüğü
  • Çift taraflı / tek taraflı parlatma gereksinimleri
  • Ultra temiz yüzey işleme ve gerilim giderme işlemi

Eşleşen Yapısal Bileşenler

  • Alt tabaka taşıyıcı fikstür boyutu özelleştirmesi
  • Konumlandırma deliği ve oluk işleme
  • Metal eşleştirme tabanı ve manşon yapısı
  • Montaj ve sabitleme arayüzü özellikleri
  • Alt tabaka ve yardımcı parçaların entegre montajı

    Müşterilerin doğrudan kurulum ve kullanım ihtiyaçlarını karşılamak için SiC yüzeyleri ve eşleşen metal/seramik parçalarla monte edilmiş bitmiş entegre bileşenler sağlayabiliriz.

    Değiştirme ve Tersine Mühendislik HizmetiSic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

    Durdurulmuş SiC yüzeyleri, bulunması zor orijinal parçalar ve özel yarı iletken ekipmanlar için standart dışı özelleştirilmiş alt tabakalar için profesyonel tersine mühendislik ve değiştirme üretim hizmetleri sunuyoruz. Müşteriler değerlendirme ve fiyat teklifi için aşağıdaki bilgileri sağlayabilir:

  • Orijinal ekipman parça numarası
  • Detaylı teknik çizimler ve parametre özellikleri
  • Net ürün fotoğrafları ve fiziksel örnekler (yeni/kullanılmış)
  • Anahtar boyut ve kristal parametre verileri
  • Destekleyici ekipman modeli ve parti bilgileri
  • Özel uygulama senaryoları ve işlem ortamı parametreleri

    Profesyonel mühendislik ekibimiz, resmi fiyat teklifinden önce yüzey yapısı, kristal performansı, işleme zorluğu ve üretim fizibilitesi hakkında kapsamlı bir değerlendirme yapacaktır. Tüm özelleştirilmiş değiştirme yüzeyleri, işlem uyumluluğu için optimize edilecektir. Nihai eşleşme performansı, kullanım etkisinde sıfır farkı sağlamak için müşterilerin gerçek ekipman yapılandırmasına ve üretim süreci standartlarına göre teyit edilecektir.

Kalite Kontrol

    Tüm HPSI SiC yüzeyleri için tam işlem hassasiyetli kalite denetimi uyguluyoruz ve müşteri proje gereksinimlerine ve endüstri standartlarına göre hedeflenen denetim öğeleri ve eksiksiz test raporları sağlayabiliriz. Temel denetim içerikleri şunları içerir:

  • Tam boyutlu hassasiyet denetimi (çap, kalınlık, tolerans kalibrasyonu)
  • Kristal yönelim ve politip doğruluğu tespiti
  • Yüzey düzlüğü, çarpılma ve pürüzlülük testi
  • Mikro boru yoğunluğu ve kusur yoğunluğu denetimi
  • Direnç ve elektriksel performans testi
  • Görsel kusur denetimi (çizikler, çukurlar, çatlaklar, kapanımlar)
  • Temizlik ve yüzey gerilimi tespiti
  • Profesyonel çarpışma önleyici ve toz geçirmez paketleme denetimi

    Müşteri gelen malzeme doğrulaması ve üretim kalitesi izlenebilirliğini desteklemek için tam test verileriyle resmi denetim raporları sağlanabilir.

Fiyat Teklifi İçin Hangi Bilgileri Göndermelisiniz?

    Doğru fiyat teklifi sağlamak ve teslimat döngüsünü kısaltmak için lütfen danışırken aşağıdaki ayrıntılı bilgileri sağlayın:

  • Eksiksiz ürün teknik çizimleri ve parametre sayfaları
  • Yüzey çapı, kalınlığı ve tolerans gereksinimleri
  • Kristal politipi, yönelimi ve eğim özellikleri
  • Yüzey bitirme, parlatma sınıfı ve temizlik gereksinimleri
  • Eşleşen yardımcı bileşenlerin parametreleri (varsa)
  • Ekipman markası, modeli ve destekleyici işlem koşulları
  • Orijinal OEM parça numarası (varsa)
  • Gerekli miktar ve parti talebi
  • Özel uygulama süreci ve aşırı ortam gereksinimleri

    Eksiksiz teknik çizimler mevcut değilse, lütfen ekibimizin parametre testi ve şema değerlendirmesi yapması için yüzeyin net yüksek çözünürlüklü fotoğraflarını ve fiziksel örneklerini sağlayın.

SSS

HPSI SiC yüzeyleri temel olarak ne için kullanılır?

    HPSI (Yüksek Saflıkta Yarı İletken) SiC yüzeyleri, yüksek frekanslı RF ve gelişmiş yarı iletken cihaz üretimi için temel taşıyıcı alt tabakalardır, esas olarak GaN RF güç amplifikatörleri, 5G baz istasyonu çipler, milimetre dalga radarı, havacılık elektroniği, mikrodalga MMIC ve diğer alanlarda kullanılır, yüksek sıcaklık epitaksisi, ince film biriktirme ve hassas aşındırma işlemleri için uygundur.

 

Özelleştirilmiş entegre yüzey montaj parçaları sağlayabilir misiniz?

    Evet. Tek SiC yüzey alt tabakalarına ek olarak, çizimlere ve numune gereksinimlerine göre çeşitli eşleşen fikstürler, metal tabanlar, konumlandırma bileşenleri ve bitmiş entegre montajlar özelleştirebilir, tek durak destekleyici tedarik sağlayabiliriz.

 

Eski ve özel ekipmanlar için değiştirme yüzeyleri üretebilir misiniz?

    Evet. Çizim tabanlı üretim ve numune tersine mühendislik dahil olmak üzere tam hizmet özelleştirilmiş üretim destekliyoruz. Müşteriler orijinal parça numaralarını, teknik parametreleri, fiziksel örnekleri ve ekipman bilgilerini sağlayabilir ve ekibimiz performans eşleştirmesini ve alternatif üretimi tamamlayacaktır.

 

SiC yüzeylerinin tüm temel parametreleri özelleştirilebilir mi?

    Evet. Yüzey boyutu, kalınlığı, kristal politipi, kenar işleme, yüzey pürüzlülüğü, düzlük ve parlatma sınıfı dahil olmak üzere tüm anahtar parametreler, kişiselleştirilmiş Ar-Ge ve üretim ihtiyaçlarını karşılamak için müşteri işlem gereksinimlerine göre tam olarak özelleştirilebilir.

 

Küçük parti ve prototip siparişlerini destekliyor musunuz?

    Evet. Prototip geliştirme, laboratuvar küçük parti testleri, ekipman bakım değişimi ve seri üretim parti siparişlerini tam olarak destekliyoruz. Özelleştirilmiş parametrelere ve işleme zorluğuna göre üretim şemasını ve fiyat teklifini değerlendireceğiz.

İlgili ürünler

Sic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

LED, yarı iletken, lazer ve optik cihazlar için kullanılan yüksek saflıkta safir kristal

 

Sic Wafer HPSI:Yüksek saflıklı yarı yalıtım Yüksek ısı iletkenliği kontrol edilebilir MPD

MEMS ve ultraviyole sensörler için kullanılan 6 inç N tipi 6H silisyum karbür dış tabaka, kalınlık 350 mikron