Yarı iletken cihazlar daha ince waferlere, daha kırılgan yapılara ve daha yüksek entegrasyon yoğunluğuna doğru evrildikçe, geleneksel wafer kesme teknolojileri giderek daha fazla zorlanmaktadır. MEMS cihazları, bellek çipleri, güç yarı iletkenleri ve ultra ince paketler daha yüksek çip gücü, minimum kirlilik ve üstün verim kararlılığı gerektirir.
Stealth Dicing™ teknolojisi, wafer ayrımı için temelde farklı bir yaklaşım sunar. Bıçakla kesme veya yüzey lazer ablasyonunun aksine, Stealth Dicing kontrollü bir kırılmayı başlatmak için iç lazer modifikasyon işlemi kullanır. Wafer daha sonra harici çekme gerilimi uygulanarak ayrılır, yüzey hasarı, döküntü ve kesme kaybı ortadan kalkar.
Bu kuru, temassız işlem, verim, güç, temizlik ve işleme verimliliği açısından önemli avantajlar sağlar ve bunu yeni nesil yarı iletken üretimi için temel bir teknoloji haline getirir.
![]()
Bıçakla kesme, waferi fiziksel olarak kesmek için yüksek hızlı dönen bir elmas bıçak kullanır. Endüstride yaygın olarak benimsenmiş olsa da, bu mekanik yaklaşım birkaç temel zorluk sunar:
Mekanik titreşim cihaza stres uygular
Soğutma suyu gereklidir, bu da kirlilik riskini artırır
Kesme kenarları boyunca yonga oluşumu meydana gelir
Kesme kaybı kullanılabilir wafer alanını azaltır
Döküntü ve parçacıklar kırılgan yapılara zarar verebilir
Verim kenar kalitesi ile sınırlıdır
İşleme hızı bıçak aşınması ile sınırlıdır
Gelişmiş MEMS cihazları veya ultra ince waferler için bu sorunlar daha da kritik hale gelir.
Lazer ablasyonla kesme, wafer yüzeyine bir lazer ışını odaklayarak malzemeyi eritir ve buharlaştırır, waferi ayıran oluklar oluşturur.
Mekanik teması ortadan kaldırmasına rağmen, termal etkiler yaratır:
Isıdan Etkilenen Bölge (HAZ) malzeme gücünü düşürür
Yüzey erimesi metal katmanlara zarar verebilir
Saçılmış parçacıklar cihazları kirletir
Ek koruyucu kaplama işlemleri gerekebilir
Termal stres nedeniyle çip gücü azalır
İşlem hızı malzeme kaldırma hızı ile sınırlıdır
Cihaz geometrileri daha hassas hale geldikçe, yüzey tabanlı kaldırma yöntemleri artan riskler sunar.
Stealth Dicing tamamen farklı bir fiziksel prensip üzerinde çalışır:yüzey malzeme kaldırma yerine iç modifikasyon.Temel özellikler:
Lazer ışınlama işlemi (SD katmanı oluşumu)
Genişleme işlemi (kontrollü ayrım)
2.1 Lazer Işınlama İşlemi – SD Katmanının Oluşumu
Odak noktasında, kristal yapı içinde modifiye edilmiş bir katman oluşturulur. Bu iç modifiye edilmiş bölgeye
Stealth Dicing Katmanı (SD Katmanı)denir.Temel özellikler:
Yüzey ablasyonu yok
Malzeme kaldırma yok
İç mikro-çatlak başlatma
Planlanmış kesme hatları boyunca kontrollü çatlak yayılması
Çatlaklar SD katmanından hem üst hem de alt yüzeylere doğru uzanır. Lazerin amaçlanan kesme yolu boyunca taranmasıyla sürekli bir iç kırılma düzlemi oluşur.
Kalın waferler veya MEMS cihazları için, tam ayrım kontrolünü sağlamak üzere kalınlık yönünde birden fazla SD katmanı oluşturulabilir.
2.2 Dört SD Katmanı Modu
Mod
| Açıklama | Çatlak Durumu | ST (Gizli) |
|---|---|---|
| Çatlak içeride kalır | Yüzeylere ulaşmaz | HC (Yarım Kesim) |
| Çatlak üst yüzeye ulaşır | Kısmi ayrım | BHC (Alt Yarım Kesim) |
| Çatlak alt yüzeye ulaşır | Alt taraf ayrımı | FC (Tam Kesim) |
| Çatlak her iki yüzeye nüfuz eder | Tam ayrım | Bu modları seçip birleştirerek, çeşitli yarı iletken yapılar için optimum işleme koşulları elde edilebilir. |
2.3 Genişleme İşlemi – Gerilim Kaynaklı Ayrım
Uygulanan çekme gerilimi, iç çatlakların doğal olarak wafer yüzeylerine yayılmasına ve bireysel çiplerin ayrılmasına neden olur.
Ayrım, malzeme kaldırma yerine kontrollü çatlak yayılması yoluyla gerçekleşir.
Bu birkaç fayda sağlar:
Cihazlar üzerinde mekanik etki yok
Termal stres yok
Yonga oluşumu yok
Döküntü oluşumu yok
Kesme kaybı yok
3. Stealth Dicing™'in Teknik Avantajları
3.1 Tamamen Kuru İşlem
Su kirliliği
Parçacıkların yeniden çökelmesi
Kurutma işlemleri
İkincil temizleme adımları
İşlem temiz ve çevre dostudur.
3.2 Kesme Kaybı Yok
Stealth Dicing, malzeme kaldırmadan bir iç kırılma düzlemi oluşturur, bu da şu anlama gelir:
Maksimum wafer kullanımı
Wafer başına daha yüksek çip sayısı
Geliştirilmiş maliyet verimliliği
3.3 Yonga Oluşumu Yok ve HAZ Yok
Kenar yongası yok
Isıdan Etkilenen Bölge yok
Güç düşüşü yok
Üstün bükülme mukavemeti
Bu, özellikle 50 μm altındaki ultra ince waferler için önemlidir.
3.4 Daha Yüksek Çip Verimi
Cihaz güvenilirliği artar
Verim artar
Kırılgan MEMS membran yapıları sağlam kalır
Metal ve koruyucu filmler etkilenmez
3.5 Geliştirilmiş İşlem Hızı
Ek olarak, SDBG (Grinding Öncesi Gizli Kesme), inceltmeden önce SD katmanını oluşturarak ultra ince cihazların işlenmesini sağlar.
Bu gelişmeler, yüksek hacimli üretim için üretkenliği önemli ölçüde artırır.
4. Kesme Teknolojilerinin Karşılaştırılması
| Bıçakla Kesme | Ablasyonla Kesme | Stealth Dicing™ | İşlem Yöntemi |
|---|---|---|---|
| Mekanik taşlama | Yüzey lazer kaldırma | İç lazer modifikasyonu | Soğutma Suyu |
| Gerekli | Gerekli değil | Gerekli değil | Yonga Oluşumu |
| Oluşur | Oluşabilir | Oluşmaz | Isıdan Etkilenen Bölge |
| Hayır | Kesme Kaybı | Yok | Kesme Kaybı |
| Evet | Yok | Yok | Kesme Kaybı |
| Evet | Yok | Yok | Çip Gücü |
| Azalmış | Yüksek | Yüksek | Ultra İnce Waferler İçin Uygun |
| Orta | Yüksek | Yüksek | Ultra İnce Waferler İçin Uygun |
| Sınırlı | Riskli | Mükemmel | MEMS İçin Uygun |
| Hasar Riski | Kirlilik Riski | İdeal | 5. Uygulamalar |
Kırılgan membran yapılı MEMS sensörleri
NAND ve DRAM bellek cihazları
Güç yarı iletken cihazları
CMOS mantık cihazları
Optik cihazlar
Metal veya koruyucu filmli waferler
Ultra ince paketler (
<50 μm)Teknoloji, özellikle yüksek değerli ve yapısal olarak hassas cihazlar için avantajlıdır.
6. Endüstri Trendleri ve Gelecek Görünümü
Gelişmiş paketleme
Çiplet mimarileri
Yüksek yoğunluklu entegrasyon
Ultra ince yonga istifleme
Geniş bant aralıklı malzemeler (SiC, GaN)
Hasarsız wafer ayrımı giderek daha kritik hale gelmektedir.
Stealth Dicing, yeni nesil yarı iletken işlemede temel bir teknoloji olarak konumlanmıştır.
Kuru işlem doğası, su kullanımını ve atık üretimini azaltarak çevreye duyarlı üretim girişimlerini de desteklemektedir.
Sonuç
Mekanik kesme ve yüzey ablasyonunu iç lazer modifikasyonu ve gerilim kontrollü kırılma ile değiştirerek, yonga oluşumu, döküntü, termal hasar ve kesme kaybını ortadan kaldırır.
Sonuç şudur:
Daha yüksek çip gücü
Geliştirilmiş verim
Daha temiz işleme
Ultra ince ve kırılgan cihazlar için daha iyi uygunluk
Geliştirilmiş üretim verimliliği
Daha yüksek güvenilirlik, daha iyi performans ve geliştirilmiş maliyet verimliliği arayan yarı iletken üreticileri için Stealth Dicing, güçlü ve geleceğe hazır bir çözüm sunar.
Yarı iletken cihazlar daha ince waferlere, daha kırılgan yapılara ve daha yüksek entegrasyon yoğunluğuna doğru evrildikçe, geleneksel wafer kesme teknolojileri giderek daha fazla zorlanmaktadır. MEMS cihazları, bellek çipleri, güç yarı iletkenleri ve ultra ince paketler daha yüksek çip gücü, minimum kirlilik ve üstün verim kararlılığı gerektirir.
Stealth Dicing™ teknolojisi, wafer ayrımı için temelde farklı bir yaklaşım sunar. Bıçakla kesme veya yüzey lazer ablasyonunun aksine, Stealth Dicing kontrollü bir kırılmayı başlatmak için iç lazer modifikasyon işlemi kullanır. Wafer daha sonra harici çekme gerilimi uygulanarak ayrılır, yüzey hasarı, döküntü ve kesme kaybı ortadan kalkar.
Bu kuru, temassız işlem, verim, güç, temizlik ve işleme verimliliği açısından önemli avantajlar sağlar ve bunu yeni nesil yarı iletken üretimi için temel bir teknoloji haline getirir.
![]()
Bıçakla kesme, waferi fiziksel olarak kesmek için yüksek hızlı dönen bir elmas bıçak kullanır. Endüstride yaygın olarak benimsenmiş olsa da, bu mekanik yaklaşım birkaç temel zorluk sunar:
Mekanik titreşim cihaza stres uygular
Soğutma suyu gereklidir, bu da kirlilik riskini artırır
Kesme kenarları boyunca yonga oluşumu meydana gelir
Kesme kaybı kullanılabilir wafer alanını azaltır
Döküntü ve parçacıklar kırılgan yapılara zarar verebilir
Verim kenar kalitesi ile sınırlıdır
İşleme hızı bıçak aşınması ile sınırlıdır
Gelişmiş MEMS cihazları veya ultra ince waferler için bu sorunlar daha da kritik hale gelir.
Lazer ablasyonla kesme, wafer yüzeyine bir lazer ışını odaklayarak malzemeyi eritir ve buharlaştırır, waferi ayıran oluklar oluşturur.
Mekanik teması ortadan kaldırmasına rağmen, termal etkiler yaratır:
Isıdan Etkilenen Bölge (HAZ) malzeme gücünü düşürür
Yüzey erimesi metal katmanlara zarar verebilir
Saçılmış parçacıklar cihazları kirletir
Ek koruyucu kaplama işlemleri gerekebilir
Termal stres nedeniyle çip gücü azalır
İşlem hızı malzeme kaldırma hızı ile sınırlıdır
Cihaz geometrileri daha hassas hale geldikçe, yüzey tabanlı kaldırma yöntemleri artan riskler sunar.
Stealth Dicing tamamen farklı bir fiziksel prensip üzerinde çalışır:yüzey malzeme kaldırma yerine iç modifikasyon.Temel özellikler:
Lazer ışınlama işlemi (SD katmanı oluşumu)
Genişleme işlemi (kontrollü ayrım)
2.1 Lazer Işınlama İşlemi – SD Katmanının Oluşumu
Odak noktasında, kristal yapı içinde modifiye edilmiş bir katman oluşturulur. Bu iç modifiye edilmiş bölgeye
Stealth Dicing Katmanı (SD Katmanı)denir.Temel özellikler:
Yüzey ablasyonu yok
Malzeme kaldırma yok
İç mikro-çatlak başlatma
Planlanmış kesme hatları boyunca kontrollü çatlak yayılması
Çatlaklar SD katmanından hem üst hem de alt yüzeylere doğru uzanır. Lazerin amaçlanan kesme yolu boyunca taranmasıyla sürekli bir iç kırılma düzlemi oluşur.
Kalın waferler veya MEMS cihazları için, tam ayrım kontrolünü sağlamak üzere kalınlık yönünde birden fazla SD katmanı oluşturulabilir.
2.2 Dört SD Katmanı Modu
Mod
| Açıklama | Çatlak Durumu | ST (Gizli) |
|---|---|---|
| Çatlak içeride kalır | Yüzeylere ulaşmaz | HC (Yarım Kesim) |
| Çatlak üst yüzeye ulaşır | Kısmi ayrım | BHC (Alt Yarım Kesim) |
| Çatlak alt yüzeye ulaşır | Alt taraf ayrımı | FC (Tam Kesim) |
| Çatlak her iki yüzeye nüfuz eder | Tam ayrım | Bu modları seçip birleştirerek, çeşitli yarı iletken yapılar için optimum işleme koşulları elde edilebilir. |
2.3 Genişleme İşlemi – Gerilim Kaynaklı Ayrım
Uygulanan çekme gerilimi, iç çatlakların doğal olarak wafer yüzeylerine yayılmasına ve bireysel çiplerin ayrılmasına neden olur.
Ayrım, malzeme kaldırma yerine kontrollü çatlak yayılması yoluyla gerçekleşir.
Bu birkaç fayda sağlar:
Cihazlar üzerinde mekanik etki yok
Termal stres yok
Yonga oluşumu yok
Döküntü oluşumu yok
Kesme kaybı yok
3. Stealth Dicing™'in Teknik Avantajları
3.1 Tamamen Kuru İşlem
Su kirliliği
Parçacıkların yeniden çökelmesi
Kurutma işlemleri
İkincil temizleme adımları
İşlem temiz ve çevre dostudur.
3.2 Kesme Kaybı Yok
Stealth Dicing, malzeme kaldırmadan bir iç kırılma düzlemi oluşturur, bu da şu anlama gelir:
Maksimum wafer kullanımı
Wafer başına daha yüksek çip sayısı
Geliştirilmiş maliyet verimliliği
3.3 Yonga Oluşumu Yok ve HAZ Yok
Kenar yongası yok
Isıdan Etkilenen Bölge yok
Güç düşüşü yok
Üstün bükülme mukavemeti
Bu, özellikle 50 μm altındaki ultra ince waferler için önemlidir.
3.4 Daha Yüksek Çip Verimi
Cihaz güvenilirliği artar
Verim artar
Kırılgan MEMS membran yapıları sağlam kalır
Metal ve koruyucu filmler etkilenmez
3.5 Geliştirilmiş İşlem Hızı
Ek olarak, SDBG (Grinding Öncesi Gizli Kesme), inceltmeden önce SD katmanını oluşturarak ultra ince cihazların işlenmesini sağlar.
Bu gelişmeler, yüksek hacimli üretim için üretkenliği önemli ölçüde artırır.
4. Kesme Teknolojilerinin Karşılaştırılması
| Bıçakla Kesme | Ablasyonla Kesme | Stealth Dicing™ | İşlem Yöntemi |
|---|---|---|---|
| Mekanik taşlama | Yüzey lazer kaldırma | İç lazer modifikasyonu | Soğutma Suyu |
| Gerekli | Gerekli değil | Gerekli değil | Yonga Oluşumu |
| Oluşur | Oluşabilir | Oluşmaz | Isıdan Etkilenen Bölge |
| Hayır | Kesme Kaybı | Yok | Kesme Kaybı |
| Evet | Yok | Yok | Kesme Kaybı |
| Evet | Yok | Yok | Çip Gücü |
| Azalmış | Yüksek | Yüksek | Ultra İnce Waferler İçin Uygun |
| Orta | Yüksek | Yüksek | Ultra İnce Waferler İçin Uygun |
| Sınırlı | Riskli | Mükemmel | MEMS İçin Uygun |
| Hasar Riski | Kirlilik Riski | İdeal | 5. Uygulamalar |
Kırılgan membran yapılı MEMS sensörleri
NAND ve DRAM bellek cihazları
Güç yarı iletken cihazları
CMOS mantık cihazları
Optik cihazlar
Metal veya koruyucu filmli waferler
Ultra ince paketler (
<50 μm)Teknoloji, özellikle yüksek değerli ve yapısal olarak hassas cihazlar için avantajlıdır.
6. Endüstri Trendleri ve Gelecek Görünümü
Gelişmiş paketleme
Çiplet mimarileri
Yüksek yoğunluklu entegrasyon
Ultra ince yonga istifleme
Geniş bant aralıklı malzemeler (SiC, GaN)
Hasarsız wafer ayrımı giderek daha kritik hale gelmektedir.
Stealth Dicing, yeni nesil yarı iletken işlemede temel bir teknoloji olarak konumlanmıştır.
Kuru işlem doğası, su kullanımını ve atık üretimini azaltarak çevreye duyarlı üretim girişimlerini de desteklemektedir.
Sonuç
Mekanik kesme ve yüzey ablasyonunu iç lazer modifikasyonu ve gerilim kontrollü kırılma ile değiştirerek, yonga oluşumu, döküntü, termal hasar ve kesme kaybını ortadan kaldırır.
Sonuç şudur:
Daha yüksek çip gücü
Geliştirilmiş verim
Daha temiz işleme
Ultra ince ve kırılgan cihazlar için daha iyi uygunluk
Geliştirilmiş üretim verimliliği
Daha yüksek güvenilirlik, daha iyi performans ve geliştirilmiş maliyet verimliliği arayan yarı iletken üreticileri için Stealth Dicing, güçlü ve geleceğe hazır bir çözüm sunar.